相機 / Xenics SWIR
Xenics - Cheetah-640-CL TE3
高分辨率水冷型InGaAs摄像机
Cheetah-640CL(TE3)系列可用于微光成像和光谱学
Cheetah-640CL(TE3)系列可用于微光成像和光谱学
Cheetah-640CL(TE3)系列摄像机是一款 高分辨率、紧凑型红外摄像机, 其配备专用的低噪音 InGaAs探测器阵列,工作范围为 0.9 μm到1.7 μm。
凭借其TE3制冷传感器和水冷型摄像装置, Cheetah-640CL(TE3)系列是一款具备高度灵敏度的摄像机, 可在长积分时间条件下实现 超低暗电流。 其可为您提供 一款出色的测量工具, 以在SWIR范围内进行微光成像, 例如半导体故障分析或 发光光谱应用。
Cheetah- 640CL(TE3)系列随附 软件开发套件, 该套件可允许对各种摄像机设置进行直接读写, 并可轻易与您自己的 CameraLink图像采集系统集成。
凭借其TE3制冷传感器和水冷型摄像装置, Cheetah-640CL(TE3)系列是一款具备高度灵敏度的摄像机, 可在长积分时间条件下实现 超低暗电流。 其可为您提供 一款出色的测量工具, 以在SWIR范围内进行微光成像, 例如半导体故障分析或 发光光谱应用。
Cheetah- 640CL(TE3)系列随附 软件开发套件, 该套件可允许对各种摄像机设置进行直接读写, 并可轻易与您自己的 CameraLink图像采集系统集成。
Array Specifications | Cheetah-640CL TE3 | ||
Detector type | InGaAs | ||
Spectral range | 0.9 μm to 1.7 μm | ||
Image format | 640 (w) x 512 (h) pixels | ||
Pixel pitch | 20 μm | ||
Peak Quantum Efficiency (QE) | 80% | ||
ROIC noise | High gain: 60 e-; low gain: 400 e- | ||
Conversion gain | High gain: 20 μV/e-; Low gain: 1.6 μV/e- | ||
Array cooling | TE3-cooled | ||
Pixel operability | > 99 % |
Camera Specifications | Cheetah-640CL TE3 | ||
Lens | |||
Focal length | Broad selection of lenses available | ||
Optical interface | C-mount - Spectrometer holes | ||
Imaging performance | |||
Maximum frame rate (full frame) | 110 Hz | ||
Integration type | Snapshot | ||
Min region size | Minimum size 32 x 4 | ||
Exposure time range | up to 20s in HG mode | ||
Analog-to-Digital (ADC) | 14 bits | ||
Interfaces | |||
Command and control | CameraLink (LVDS voltage levels) | ||
Image acquisition | Base CameraLink (14 bit) | ||
Trigger | Trigger in and out (3.3 V CMOS) | ||
Power requirements | |||
Power consumption | < 4 W without TEC operation; 60 W at maximum cooling | ||
Power supply | 12 V | ||
Physical characteristics | |||
Camera cooling | Water cooling | ||
Dimensions (width x height x length) - excluding lens (approximately) |
0 °C to 50°C | ||
DWeight (excluding lens) | 2 kg |
- 灵活的GUI和SDK
- 可为所有摄像机型号提供SDK(软件开发套件)— 可提供用于C++、LabView的范例
- 高量子效率(> 80%)
- 高分辨率
- 低暗电流
- 无需LN2制冷
- 兼容光谱仪
- 发射显微学
- 荧光
- 微光成像光谱学:Raman(拉曼)、发射、光致发光、吸光度
- R&D (SWIR领域)
- 半导体故障分析